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全自动槽式清洗设备XW2000
○ 可搭载浓度监控系统,通过药水浓度监控,提升制程稳定度
○ 可搭配一键换酸、AUTO PM等功能,提升机台维护效率
○ 搭配上下震荡、超音波震荡及流场设计,最佳化洗净能力
○ 搭配专利干燥模块,支援干进干出需求,提高洁净度
○ 可定制化传送花篮设计,满足多样化制造需求
○ 标准MES功能,全面支持SECS / GEN通讯,并可实现系统联动及数据上传功能
产品详情
适用制程 Etch, PR Strip, Wafer  Clean,Plating
应用领域 半导体先进封装、2.5D/3D IC封装、化合物半导体、硅晶圆制造、SiC晶圆制造、 MOSFET晶圆后段制程(BGBM)、车用二极管、石英元件、CIS光学元件
适用材质 Si, GaAS, Quartz, Glass, SiC, InP, Sapphire, LT/LN
适用尺寸 50~300mm
承载方式 标准Cassette,SMIF、Loadport
槽体材质 PP、PVDF、PTFE、SUS316LEP、石英
温度范围 一般≤65℃;高温≤130℃;超高温≤180℃
工艺指标 蚀刻均匀性:片内:≤5%;片间:≤5%;批次间: ≤5%;
颗粒控制:增加值<20 颗@0.16 微米(带氧化硅膜测试,来料颗粒<50颗)
金属离子:<5E9 atoms/cm2
机台形式 Cassette Type/ Cassette Less Type